Melissa Braga de Carvalho (1)
Dayane Ferreira Resende (2)
Vitória Netto de Albuquerque (2)
Vinicius de Paiva Gonçalves (3
Elton Gonçalves Zenóbio (3)
Fernando Antônio Mauad de Abreu (3)
1)Discente do Curso de graduação em Odontologia – PUC Minas
2) Discentes do curso de Mestrado Acadêmico em Clínicas odontológicas – PPGO PUC Minas
3) Docentes do PPGO PUC Minas
O microscópio eletrônico de varredura (MEV), do inglês Scanning Electron Microscopes (SEM), é um tipo de microscópio eletrônico capaz de produzir imagens de alta resolução, de aparência tridimensional, da estrutura superficial de uma amostra, em aumentos muito superior ao da microscopia ótica. Nesse sentido além da escala micrométrica, a microscopia eletrônica de varredura pode atingir a escala nanométrica, próximo de 1nm. Além de avaliar os aspectos topográficos, essa técnica possibilita verificar a composição química e sua distribuição espacial, sobre essa superfície analisada. A imagem é formada por meio da varredura de sua superfície por um feixe de elétrons, o qual emite elétrons secundários (interação de um feixe primário com a superfície de interesse) e a imagem final produzida é projetada em uma tela de computador, para observação e seleção da imagem a ser analisada (FIGURA 1).
Em odontologia, o MEV é amplamente utilizado na análise de superfícies de diversas estruturas, biológicas e não biológicas, como por exemplo: o biofilme bacteriano, biomateriais e materiais odontológicos, instrumentais e superfícies dentárias. Para a análise de biomateriais, trabalha-se na ordem de micrometros, com aumentos próximos de até 10.000x. (FIGURA 2).
Amostras biológicas, como os biomateriais utilizados em enxertos, precisam ser preparadas para análise pelo MEV. O funcionamento do equipamento está relacionado à presença de um filamento de Tungstênio que gera um feixe de elétrons, guiado por um sistema de bobinas de deflexão, realizando assim, uma varredura da superfície da amostra, ponto a ponto. Desta forma, essa superfície a ser analisada exige ser uma condutora de elétrons. Em amostras que não são condutoras de elétrons, é necessário fazer um recobrimento (20-30 nm de espessura) com metal, de preferência ouro, visando prover ou aumentar a condutividade da superfície da amostra. Este procedimento é denominado metalização. Para a metalização, as amostras são montadas em suportes próprios, conhecidos como stubs, fixadas por fitas de carbono, em seguida são inseridas em um equipamento conhecido como metalizador, onde serão recobertas por uma fina camada de ouro (FIGURA 3).
Após o processo de metalização, as amostras são colocadas dentro do equipamento e, em seguida é acionado o vácuo, com a finalidade de evitar colisão dos feixes de elétrons com moléculas do ar. (FIGURA 4). Então é liberado um feixe de elétrons que incide sobre a amostra, excitando os elétrons externos dos átomos superficiais, mudando seus níveis energéticos. Ao retornarem para sua posição inicial, os elétrons liberam a energia adquirida que é emitida em comprimento de onda no espectro de raios-x. Um detector instalado na câmara de vácuo do MEV mede a energia associada a esse elétron e reflete uma imagem na tela, e a partir desta imagem são feitas as análises necessárias.
Com as imagens geradas pelo MEV, outras duas ferramentas podem ser aplicadas para complementar a análise das amostras, a Espectroscopia por Energia Dispersiva, do inglês Energy-dispersive spectroscopy (EDS) ou Energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDX). Essa ferramenta permite caracterizar a química microscópica da superfície da amostra, identificando quais elementos químicos a constituem. Uma outra análise complementar é o MAPA, em que é feito o mapeamento da distribuição superficial dos elementos químicos identificados pelo EDS (FIGURA 5).
REFERÊNCIAS:
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